Show simple item record

Μετρήσεις πάχους λεπτών υμένων με χρήση μεθόδου WLRS

dc.contributor.advisorΓκανέτσος, Θεόδωρος
dc.contributor.authorΓκανέτσος, Αντώνιος
dc.date.accessioned2019-11-08T10:56:00Z
dc.date.available2019-11-08T10:56:00Z
dc.date.issued2018-05-08
dc.identifier.urihttp://okeanis.lib2.uniwa.gr/xmlui/handle/123456789/5106
dc.description.abstractΗ πτυχιακή εργασία άφορα τις μετρήσεις πάχους λεπτών υμένων χρησιμοποιώντας φασματοσκοπια ανακλασης λευκου φωτος(WLRS).Κατα την διαδικασια αυτη η ακτινα απο την πηγη φωτος αλληλεπιδρα με το δειγμα και παραγει ενα σημα ανακλασης το οποιο συνεχως καταγραφεται απο το φασματομετρο.el
dc.format.extent45el
dc.language.isoelel
dc.publisherΑ.Ε.Ι. Πειραιά Τ.Τ.el
dc.rightsΑναφορά Δημιουργού-Μη Εμπορική Χρήση-Όχι Παράγωγα Έργα 3.0 Ελλάδα*
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/gr/*
dc.subjectTPSH::Τεχνολογία::Τεχνολογία Μηχανών - Εργαλείαel
dc.titleΜετρήσεις πάχους λεπτών υμένων με χρήση μεθόδου WLRSel
dc.title.alternativeFilm thickness measurements using WLRS methodel
dc.typeΠτυχιακή εργασίαel
dc.contributor.committeeΠυρομάλης, Δημήτριος
dc.contributor.departmentΤμήμα Μηχανικών Αυτοματισμού Τ.Ε.el
dc.contributor.facultyΣχολή Τεχνολογικών Εφαρμογώνel
dc.subject.keywordWLRSel
dc.subject.keywordΦασματοσκοπίαel
dc.subject.keywordΥπερφασματική απεικόνισηel


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record

Αναφορά Δημιουργού-Μη Εμπορική Χρήση-Όχι Παράγωγα Έργα 3.0 Ελλάδα
Except where otherwise noted, this item's license is described as
Αναφορά Δημιουργού-Μη Εμπορική Χρήση-Όχι Παράγωγα Έργα 3.0 Ελλάδα

Η δημιουργία κι ο εμπλουτισμός του Ιδρυματικού Αποθετηρίου, έγιναν στο πλαίσιο του Έργου "Υπηρεσία Ιδρυματικού Αποθετηρίου και Προστιθέμενης Αξίας Ψηφιακής Βιβλιοθήκης ΤΕΙ Πειραιά", του Επιχειρησιακού Προγράμματος "Ψηφιακή Σύγκλιση"