Μετρήσεις πάχους λεπτών υμένων με χρήση μεθόδου WLRS
Film thickness measurements using WLRS method
Keywords
WLRS ; Φασματοσκοπία ; Υπερφασματική απεικόνισηAbstract
Η πτυχιακή εργασία άφορα τις μετρήσεις πάχους λεπτών υμένων χρησιμοποιώντας φασματοσκοπια ανακλασης λευκου φωτος(WLRS).Κατα την διαδικασια αυτη η ακτινα απο την πηγη φωτος αλληλεπιδρα με το δειγμα και παραγει ενα σημα ανακλασης το οποιο συνεχως καταγραφεται απο το φασματομετρο.
Number of pages
45Faculty
Σχολή Τεχνολογικών ΕφαρμογώνAcademic Department
Τμήμα Μηχανικών Αυτοματισμού Τ.Ε.Language
GreekCollections
Except where otherwise noted, this item's license is described as
Αναφορά Δημιουργού-Μη Εμπορική Χρήση-Όχι Παράγωγα Έργα 3.0 Ελλάδα
Αναφορά Δημιουργού-Μη Εμπορική Χρήση-Όχι Παράγωγα Έργα 3.0 Ελλάδα