Εμφάνιση απλής εγγραφής

Μετρήσεις πάχους λεπτών υμένων με χρήση μεθόδου WLRS

dc.contributor.advisorΓκανέτσος, Θεόδωρος
dc.contributor.authorΓκανέτσος, Αντώνιος
dc.date.accessioned2019-11-08T10:56:00Z
dc.date.available2019-11-08T10:56:00Z
dc.date.issued2018-05-08
dc.identifier.urihttp://okeanis.lib2.uniwa.gr/xmlui/handle/123456789/5106
dc.description.abstractΗ πτυχιακή εργασία άφορα τις μετρήσεις πάχους λεπτών υμένων χρησιμοποιώντας φασματοσκοπια ανακλασης λευκου φωτος(WLRS).Κατα την διαδικασια αυτη η ακτινα απο την πηγη φωτος αλληλεπιδρα με το δειγμα και παραγει ενα σημα ανακλασης το οποιο συνεχως καταγραφεται απο το φασματομετρο.el
dc.format.extent45el
dc.language.isoelel
dc.publisherΑ.Ε.Ι. Πειραιά Τ.Τ.el
dc.rightsΑναφορά Δημιουργού-Μη Εμπορική Χρήση-Όχι Παράγωγα Έργα 3.0 Ελλάδα*
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/gr/*
dc.subjectTPSH::Τεχνολογία::Τεχνολογία Μηχανών - Εργαλείαel
dc.titleΜετρήσεις πάχους λεπτών υμένων με χρήση μεθόδου WLRSel
dc.title.alternativeFilm thickness measurements using WLRS methodel
dc.typeΠτυχιακή εργασίαel
dc.contributor.committeeΠυρομάλης, Δημήτριος
dc.contributor.departmentΤμήμα Μηχανικών Αυτοματισμού Τ.Ε.el
dc.contributor.facultyΣχολή Τεχνολογικών Εφαρμογώνel
dc.subject.keywordWLRSel
dc.subject.keywordΦασματοσκοπίαel
dc.subject.keywordΥπερφασματική απεικόνισηel


Αρχεία σε αυτό το τεκμήριο

Thumbnail

Αυτό το τεκμήριο εμφανίζεται στις ακόλουθες συλλογές

Εμφάνιση απλής εγγραφής

Αναφορά Δημιουργού-Μη Εμπορική Χρήση-Όχι Παράγωγα Έργα 3.0 Ελλάδα
Εκτός από όπου επισημαίνεται κάτι διαφορετικό, το τεκμήριο διανέμεται με την ακόλουθη άδεια:
Αναφορά Δημιουργού-Μη Εμπορική Χρήση-Όχι Παράγωγα Έργα 3.0 Ελλάδα

Η δημιουργία κι ο εμπλουτισμός του Ιδρυματικού Αποθετηρίου, έγιναν στο πλαίσιο του Έργου "Υπηρεσία Ιδρυματικού Αποθετηρίου και Προστιθέμενης Αξίας Ψηφιακής Βιβλιοθήκης ΤΕΙ Πειραιά", του Επιχειρησιακού Προγράμματος "Ψηφιακή Σύγκλιση"