dc.contributor.advisor | Γκανέτσος, Θεόδωρος | |
dc.contributor.author | Γκανέτσος, Αντώνιος | |
dc.date.accessioned | 2019-11-08T10:56:00Z | |
dc.date.available | 2019-11-08T10:56:00Z | |
dc.date.issued | 2018-05-08 | |
dc.identifier.uri | http://okeanis.lib2.uniwa.gr/xmlui/handle/123456789/5106 | |
dc.description.abstract | Η πτυχιακή εργασία άφορα τις μετρήσεις πάχους λεπτών υμένων χρησιμοποιώντας φασματοσκοπια ανακλασης λευκου φωτος(WLRS).Κατα την διαδικασια αυτη η ακτινα απο την πηγη φωτος αλληλεπιδρα με το δειγμα και παραγει ενα σημα ανακλασης το οποιο συνεχως καταγραφεται απο το φασματομετρο. | el |
dc.format.extent | 45 | el |
dc.language.iso | el | el |
dc.publisher | Α.Ε.Ι. Πειραιά Τ.Τ. | el |
dc.rights | Αναφορά Δημιουργού-Μη Εμπορική Χρήση-Όχι Παράγωγα Έργα 3.0 Ελλάδα | * |
dc.rights.uri | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/gr/ | * |
dc.subject | TPSH::Τεχνολογία::Τεχνολογία Μηχανών - Εργαλεία | el |
dc.title | Μετρήσεις πάχους λεπτών υμένων με χρήση μεθόδου WLRS | el |
dc.title.alternative | Film thickness measurements using WLRS method | el |
dc.type | Πτυχιακή εργασία | el |
dc.contributor.committee | Πυρομάλης, Δημήτριος | |
dc.contributor.department | Τμήμα Μηχανικών Αυτοματισμού Τ.Ε. | el |
dc.contributor.faculty | Σχολή Τεχνολογικών Εφαρμογών | el |
dc.subject.keyword | WLRS | el |
dc.subject.keyword | Φασματοσκοπία | el |
dc.subject.keyword | Υπερφασματική απεικόνιση | el |