Χαρακτηρισμός προηγμένων υλικών με χρήση ακτίνων - Χ

Ντασιώτης, Δημοσθένης

dc.contributor.advisor	Παναγιωτάτος, Γεράσιμος
dc.contributor.author	Ντασιώτης, Δημοσθένης
dc.date.accessioned	2019-04-03T09:55:54Z
dc.date.available	2019-04-03T09:55:54Z
dc.date.issued	2019-03-13
dc.identifier.uri	http://okeanis.lib2.uniwa.gr/xmlui/handle/123456789/4854
dc.description.abstract	Οι ακτίνες Χ αποτελούν αντικείμενο εκτενούς έρευνας καθώς έχουν πληθώρα εφαρμογών στο τομέα της τεχνολογίας. Ένα από αυτά είναι ο χαρακτηρισμός προηγμένων υλικών. Στην παρούσα διπλωματική εργασία αναλύονται οι βασικές αρχές αλλά και οι τεχνικές για τον χαρακτηρισμό προηγμένων υλικών με την χρήση ακτίνων Χ.Στα πρώτα δύο κεφάλαια της εργασίας γίνεται αναφορά στην ιστορική αναδρομή αλλά και στις βασικές αρχές λειτουργίας και ιδιοτήτων των ακτίνων Χ όπως είναι η απορρόφηση , ο φθορισμός , η σκέδαση και η περίθλαση ακτίνων Χ. Στην συνέχεια γίνεται περαιτέρω ανάλυση στις βασικότερες ιδιότητες των ακτίνων Χ δηλαδή την περίθλαση και τον φθορισμό.Στα κεφάλαια 4 και 5 γίνεται ανάλυση στις βασικές αρχές λειτουργίας των συστημάτων χαρακτηρισμού προηγμένων υλικών XPS, XRF και XRD. Εν συνεχεία γίνεται ανάλυση στην διάταξη των οργάνων της κάθε αρχής λειτουργίας και συγκρίνονται οι διατάξεις αυτων.Στο 6 κεφάλαιο γίνεται αναφορά σε τυπικά περιθλασίμετρα που χρησιμοποιούνται στο εμπόριο και γίνεται μια περαιτέρω ανάλυση σε κάθε ένα από αυτά. Επίσης λαμβάνει μέρος η εισαγωγή ανάλυσης δεδομένων διάχυσης ακτίνων Χ, τα τυπικά διαγράμματα που εμφανίζονται μετά από ένα απλό πειραματικό μέρος και μέσω αυτών ποιές εν συνεχεία ενέργειες λαμβάνουν χώρα.Εν κατακλείδι για τις ανάγκες της έρευνας εκτελέστηκαν θεωρητικοί υπολογισμοί περίθλασης ακτίνων Χ με τη χρήση του προγράμματος Match! (Simulator program Match!). Παρουσιάζεται βήμα προς βήμα η ανάλυση ενός υλικού απο τον αρχικό χαρακτηρισμό του μέχρι την τελική ανάλυση του.	el
dc.format.extent	107	el
dc.language.iso	el	el
dc.publisher	Α.Ε.Ι. Πειραιά Τ.Τ.	el
dc.rights	Αναφορά Δημιουργού-Μη Εμπορική Χρήση-Όχι Παράγωγα Έργα 3.0 Ελλάδα	*
dc.rights.uri	http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/gr/	*
dc.subject	TPSH::Τεχνολογία::Μηχανολογία	el
dc.subject	TPSH::Φυσικές Επιστήμες::Φυσική	el
dc.title	Χαρακτηρισμός προηγμένων υλικών με χρήση ακτίνων - Χ	el
dc.title.alternative	Advanced materials X-ray characterization	el
dc.type	Πτυχιακή εργασία	el
dc.contributor.committee	Ψυλλάκη, Πανδώρα
dc.contributor.committee	Θεοδωρακάκος, Ανδρέας
dc.contributor.department	Τμήμα Μηχανολόγων Μηχανικών Τ.Ε.	el
dc.contributor.faculty	Σχολή Τεχνολογικών Εφαρμογών	el
dc.subject.keyword	Ακτίνες Χ	el
dc.subject.keyword	Φασματοσκοπία	el
dc.subject.keyword	XRF	el
dc.subject.keyword	Ηλεκτρομαγνητική ακτινοβολία	el
dc.description.abstracttranslated	X-rays are extensively researched as they have a wealth of applications in the field of technology. One of these is the characterization of advanced materials. This diploma thesis analyzes the basic principles and techniques for the characterization of advanced materials using X-rays.In the first two chapters of this work, reference is made to the historical background and to basic principles of X-ray functionality and properties such as X-ray absorption, fluorescence, scattering and diffraction. Further analysis is made on the basic properties of X-ray diffraction and fluorescence.Chapters 4 and 5 analyze the basic operating principles of XPS, XRF, and XRD advanced material characterization systems. An analysis is then made on the arrangement of the instruments of each operating principle and then a comparison is made between the devices. In Chapter 6 reference is made to typical commercially used diffractometers and a further analysis is made in each of them. Also, it takes place an introduction of X-ray diffraction data analysis, the typical diagrams that appear after a simple experimental part and through which subsequent actions take place.In conclusion, theoretical X-ray diffraction calculations were performed using the Match! (Simulator program Match!). A step-by-step analysis of the material from its initial characterization to its final analysis is presented.	el

Files in this item

Name:: mec_42760.pdf
Size:: 4.638Mb
Format:: PDF

View/Open

This item appears in the following Collection(s)

Τμήμα Μηχανολόγων Μηχανικών Τ.Ε.

Show simple item record

Except where otherwise noted, this item's license is described as
Αναφορά Δημιουργού-Μη Εμπορική Χρήση-Όχι Παράγωγα Έργα 3.0 Ελλάδα