Χαρακτηρισμός προηγμένων υλικών με χρήση ακτίνων - Χ
Advanced materials X-ray characterization
Θεματική επικεφαλίδα
TPSH::Τεχνολογία::Μηχανολογία ; TPSH::Φυσικές Επιστήμες::ΦυσικήΛέξεις κλειδιά
Ακτίνες Χ ; Φασματοσκοπία ; XRF ; Ηλεκτρομαγνητική ακτινοβολίαΠερίληψη
Οι ακτίνες Χ αποτελούν αντικείμενο εκτενούς έρευνας καθώς έχουν πληθώρα εφαρμογών στο τομέα της τεχνολογίας. Ένα από αυτά είναι ο χαρακτηρισμός προηγμένων υλικών. Στην παρούσα διπλωματική εργασία αναλύονται οι βασικές αρχές αλλά και οι τεχνικές για τον χαρακτηρισμό προηγμένων υλικών με την χρήση ακτίνων Χ.Στα πρώτα δύο κεφάλαια της εργασίας γίνεται αναφορά στην ιστορική αναδρομή αλλά και στις βασικές αρχές λειτουργίας και ιδιοτήτων των ακτίνων Χ όπως είναι η απορρόφηση , ο φθορισμός , η σκέδαση και η περίθλαση ακτίνων Χ. Στην συνέχεια γίνεται περαιτέρω ανάλυση στις βασικότερες ιδιότητες των ακτίνων Χ δηλαδή την περίθλαση και τον φθορισμό.Στα κεφάλαια 4 και 5 γίνεται ανάλυση στις βασικές αρχές λειτουργίας των συστημάτων χαρακτηρισμού προηγμένων υλικών XPS, XRF και XRD. Εν συνεχεία γίνεται ανάλυση στην διάταξη των οργάνων της κάθε αρχής λειτουργίας και συγκρίνονται οι διατάξεις αυτων.Στο 6 κεφάλαιο γίνεται αναφορά σε τυπικά περιθλασίμετρα που χρησιμοποιούνται στο εμπόριο και γίνεται μια περαιτέρω ανάλυση σε κάθε ένα από αυτά. Επίσης λαμβάνει μέρος η εισαγωγή ανάλυσης δεδομένων διάχυσης ακτίνων Χ, τα τυπικά διαγράμματα που εμφανίζονται μετά από ένα απλό πειραματικό μέρος και μέσω αυτών ποιές εν συνεχεία ενέργειες λαμβάνουν χώρα.Εν κατακλείδι για τις ανάγκες της έρευνας εκτελέστηκαν θεωρητικοί υπολογισμοί περίθλασης ακτίνων Χ με τη χρήση του προγράμματος Match! (Simulator program Match!). Παρουσιάζεται βήμα προς βήμα η ανάλυση ενός υλικού απο τον αρχικό χαρακτηρισμό του μέχρι την τελική ανάλυση του.
Περίληψη
X-rays are extensively researched as they have a wealth of applications in the field of technology. One of these is the characterization of advanced materials. This diploma thesis analyzes the basic principles and techniques for the characterization of advanced materials using X-rays.In the first two chapters of this work, reference is made to the historical background and to basic principles of X-ray functionality and properties such as X-ray absorption, fluorescence, scattering and diffraction. Further analysis is made on the basic properties of X-ray diffraction and fluorescence.Chapters 4 and 5 analyze the basic operating principles of XPS, XRF, and XRD advanced material characterization systems. An analysis is then made on the arrangement of the instruments of each operating principle and then a comparison is made between the devices.
In Chapter 6 reference is made to typical commercially used diffractometers and a further analysis is made in each of them. Also, it takes place an introduction of X-ray diffraction data analysis, the typical diagrams that appear after a simple experimental part and through which subsequent actions take place.In conclusion, theoretical X-ray diffraction calculations were performed using the Match! (Simulator program Match!). A step-by-step analysis of the material from its initial characterization to its final analysis is presented.
Αριθμός σελίδων
107Σχολή
Σχολή Τεχνολογικών ΕφαρμογώνΑκαδημαϊκό Τμήμα
Τμήμα Μηχανολόγων Μηχανικών Τ.Ε.Γλώσσα
ΕλληνικάΣυλλογή
Εκτός από όπου επισημαίνεται κάτι διαφορετικό, το τεκμήριο διανέμεται με την ακόλουθη άδεια:
Αναφορά Δημιουργού-Μη Εμπορική Χρήση-Όχι Παράγωγα Έργα 3.0 Ελλάδα
Αναφορά Δημιουργού-Μη Εμπορική Χρήση-Όχι Παράγωγα Έργα 3.0 Ελλάδα